電子顯微鏡
電子顯微鏡，簡稱電鏡，英文名Electron Microscope（簡稱EM），經過五十多年的發展已成為現代科學技術中不可缺少的重要工具。電子顯微鏡由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。
工作原理:
電子顯微鏡是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。
電子顯微鏡的分辨能力以它所能分辨的相鄰兩點的*小間距來表示。20世紀70年代，透射式電子顯微鏡的分辨率約為0.3納米(人眼的分辨本領約為0.1毫米)?，F在電子顯微鏡*大放大倍率超過300萬倍，而光學顯微鏡的*大放大倍率約為2000倍，所以通過電子顯微鏡*能直接觀察到某些重金屬的原子和晶體中排列整齊的原子點陣。
電子顯微鏡按結構和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、電子數碼顯微鏡等。

分類:
1、    透射式電子顯微鏡
透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。
透射電鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～幾十萬倍。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，必須制備更薄的超薄切片（通常為50～100nm）。
TEM在中和物理學和生物學相關的許多科學領域都是重要的分析方法，如癌癥研究、病毒學、材料科學、以及納米技術、半導體研究等等。